激光粒度分析儀的原理

益豐儀器

激光粒度分析儀的核心原理是 光的散射現(xiàn)象 與 弗朗霍夫衍射理論（適用于微米級顆粒）或 米氏散射理論（適用于納米級顆粒）。  
當(dāng)一束單色激光（如氦 - 氖激光，波長632.8 nm）照射到分散在介質(zhì)中的顆粒時，不同粒徑的顆粒會使激光產(chǎn)生角度各異的散射光：大顆粒散射角小，光強(qiáng)高；小顆粒散射角大，光強(qiáng)低。儀器通過多層環(huán)形光電探測器（如9~64環(huán)）捕捉不同角度的散射光強(qiáng)度分布，再由計(jì)算機(jī)根據(jù)預(yù)設(shè)的光學(xué)模型（如米氏散射公式）反演計(jì)算，得出顆粒的粒徑分布數(shù)據(jù)（如體積分布、數(shù)量分布）。  
對于納米級顆粒，需配合動態(tài)光散射（DLS）技術(shù)，通過分析散射光強(qiáng)的波動頻率（與顆粒布朗運(yùn)動速度相關(guān)）計(jì)算流體力學(xué)直徑；而微米級顆粒則直接基于靜態(tài)散射光的空間分布解析粒徑。該技術(shù)可快速測量 0.01 μm~3000 μm 的顆粒，廣泛應(yīng)用于化工、制藥、陶瓷、環(huán)保等領(lǐng)域，具有測量范圍寬、重復(fù)性好、操作自動化等特點(diǎn)。

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顛勺喜劇人

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可莉

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